На мероприятии будут рассмотрены технологические методы создания элементной базы устройств интегральной фотоники и
наноэлектроники: методами осаждения тонких пленок, методами формирования
наноструктур: электронно-лучевой и фотолитографией, методами контроля с
применением атомно-силовой микроскопии. С помощью программных пакетов выполнены расчеты и моделирование оптимальных параметров нанофотонных структур: фильтров,
кольцевых резонаторов, разветвителей и т.п. Выполнено знакомство с методами
характеризации устройств: сверхпроводниковых однофотонных детекторов,
волоконно-оптических интерферометров, научатся работать с квантовой системой
передачи ключа и физическим генератором случайных чисел.