Круглый стол «Практика использования синхротронного излучения для разработки новых материалов в машиностроении»

В рамках деловой программы Технопром-2026 состоится круглый стол «Практика использования синхротронного излучения для разработки новых конструкционных и инструментальных материалов, машиностроительных технологий».

Дата, время - 27» августа 2026 г с 14:00 до 15:30
Место проведения - МВК «Новосибирск Экспоцентр», конференц-зал №8 (3 этаж)

Модератором выступит Зубавичус Ян Витаутасович, главный научный сотрудник отдела синхротронных исследований функциональных материалов ЦКП «СКИФ», д.ф.-м.н.
Участники обсудят, как возможности уникального объекта класса «Мегасайенс» помогут решать прикладные задачи промышленности, от создания режущего инструмента до производства высококачественного металлопроката.

В программе — четыре тематических блока с конкретными примерами из разных отраслей:
Первый блок посвящён использованию in situ синхротронной диагностики для разработки отечественных технологий изготовления режущего и штампового инструмента.
Второй блок расскажет о применении синхротронного излучения для создания новых жаростойких и термобарьерных покрытий для авиадвигателей.
Третий блок касается разработки высокопрочных наплавок для горного оборудования методом прямого лазерного напыления.
Четвёртый блок представит технологические вызовы ЕВРАЗ ЗСМК при производстве металлопроката и потенциал синхротронных методов для их решения.

В каждом блоке выступят представители как научных организаций (Институт ядерной физики СО РАН, ИТПМ СО РАН, НГТУ, Сколтех), так и промышленных предприятий (ООО «Вольф Технолоджи», АО «ОДК-Авиадвигатель», ООО «Гормашэкспорт», ЕВРАЗ ЗСМК).

Завершится мероприятие сессией «Открытый микрофон», где представители предприятий смогут задать вопросы и получить обратную связь от разработчиков станций ЦКП «СКИФ».

Главная польза круглого стола — в прямом диалоге между наукой и промышленностью. Предприятия смогут сформулировать свои технологические задачи, а учёные — оценить, как методы синхротронной диагностики (дифрактометрия, спектроскопия, томография) помогут их решить. Для заводов и производственных компаний это возможность узнать о новых подходах, которые кратно сокращают сроки разработки и внедрения технологий. Для научных коллективов — шанс лучше понять реальные запросы индустрии и выстроить долгосрочное сотрудничество.