Стремительно развивающиеся технологии производства современных устройств электроники, фотоники, сенсорики и т.д. все шире используют наноматериалы. Поскольку химический состав и стехиометрия наноматериалов многом определяют их функциональные характеристики, то возникает необходимость анализа и контроля данных параметров в субнано- и нанометровом масштабах. Одним из наиболее эффективных методов анализа химического состава и стехиометрии поверхности тонких пленок и наноматериалов является рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. В рамках семинара будет рассказано об основах рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, а также представлены примеры применения метода для решения как научных, так и инженерных задач в современном материаловедении.

Докладчик:
Хубежов Сослан Арсенович, к.ф.-м.н., старший научный сотрудник лаборатории технологии функциональных наноматериалов ИНЭП ЮФУ

Мероприятие организовано при поддержке платформы НТИ и Министерства науки и высшей школы РФ.