SCIENCE.POINT: Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
28 сентября 2022, с 13:00 до 14:30 по Московскому времени
![Image](https://leader-id.storage.yandexcloud.net/event_photo/332041/6331aa31eac7e366776686.jpg)
Уже идут:
![Солодовник Максим Сергеевич Солодовник Максим Сергеевич](https://leaderid.s3.amazonaws.com/user_photo/460408/601be3df2380e848579284_180.jpg)
![Ильина Марина Владимировна Ильина Марина Владимировна](https://leader-id.storage.yandexcloud.net/user_photo/1089998/625fb85e0fe7f150551927_180.jpg)
О мероприятии
Стремительно развивающиеся технологии производства современных устройств электроники, фотоники, сенсорики и т.д. все шире используют наноматериалы. Поскольку химический состав и стехиометрия наноматериалов многом определяют их функциональные характеристики, то возникает необходимость анализа и контроля данных параметров в субнано- и нанометровом масштабах. Одним из наиболее эффективных методов анализа химического состава и стехиометрии поверхности тонких пленок и наноматериалов является рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. В рамках семинара будет рассказано об основах рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, а также представлены примеры применения метода для решения как научных, так и инженерных задач в современном материаловедении.
Докладчик:
Хубежов Сослан Арсенович, к.ф.-м.н., старший научный сотрудник лаборатории технологии функциональных наноматериалов ИНЭП ЮФУ
Мероприятие организовано при поддержке платформы НТИ и Министерства науки и высшей школы РФ.